由日本京都大學(xué)科研人員負(fù)責(zé)的產(chǎn)學(xué)協(xié)同軟錯(cuò)誤研究團(tuán)隊(duì)，開發(fā)了一種可使用不同中子源獲取半導(dǎo)體軟錯(cuò)誤率的方法。
軟錯(cuò)誤率一般通過在地面上再現(xiàn)宇宙射線環(huán)境的特殊中子源進(jìn)行實(shí)驗(yàn)評估。而該方法則是通過將任意中子源的1個(gè)測量結(jié)果和數(shù)值模擬進(jìn)行組合求得軟錯(cuò)誤率?？蒲腥藛T使用來自3個(gè)設(shè)施的7種類型中子源的測量值和高能粒子與重離子運(yùn)動(dòng)分析代碼程序PHITS（Particle and Heavy Ion Transport code System）評估軟錯(cuò)誤率，驗(yàn)證了該方法的有效性。采用這種方法，科研人員可以使用大量的通用中子源來評估軟錯(cuò)誤率，滿足日益增長的軟錯(cuò)誤率評估需求。相關(guān)研究成果發(fā)表于國際學(xué)術(shù)期刊《IEEE Transactions on Nuclear Science》。
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